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德國菲希爾FISCHER
英國泰勒霍普森 Taylor Hobson
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德國馬爾Mahr
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美國Mark-10測力計
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美國FLIR 前視紅外熱像系統(tǒng)
美國Fluke福祿克
美國GE無損檢測
上海尚材 SCTMC
香港嘉儀CanNeed
宇舟 金相機(jī)械設(shè)備
北京時代 TIME
英國易高Elcometer
英國Renishaw雷尼紹
瑞士博勢 Proceq
表面處理層無損檢測系統(tǒng)
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DUALSCOPE MP40+EDX10探頭測量雙層涂層 DUALSCOPE®MP40E-S是一款操作簡便的鍍層厚度測量和靈活的數(shù)據(jù)采集設(shè)備。DUALSCOPE MP40用EDX10探頭測量雙層（鐵上的漆層或漆層/鋅層）。MP40在一個類似于MP20的手持式儀器中結(jié)合了磁感應(yīng)和渦流兩種方法。
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菲希爾測厚儀