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菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDL230，菲希爾臺(tái)式測(cè)厚儀，F(xiàn)ISCHER代理，菲希爾鍍層測(cè)厚儀
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xdlm 237 -菲希爾x射線熒光測(cè)厚儀代理 有三個(gè)型號(hào)：XDLM 231具有平面支撐臺(tái)，XDLM 232具有手動(dòng)操作的X / Y臺(tái)。 XDLM 237配備了一個(gè)電動(dòng)X / Y平臺(tái)，當(dāng)打開防護(hù)罩時(shí)，該平臺(tái)會(huì)自動(dòng)移到裝載位置。
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無損鍍銀測(cè)厚儀 fischer x-ray xdl 230 能量散射X射線熒光光譜法（EDXRF）作為鍍層厚度測(cè)量和材料分析的方法，可用來定量和定性分析樣品的元素組成，也可用于鍍層和鍍層系統(tǒng)的厚度測(cè)量。無論是在實(shí)驗(yàn)室還是工業(yè)生產(chǎn)環(huán)境中，這一方法都能完美勝任，并還可以與現(xiàn)代化設(shè)備一起發(fā)揮作用。
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*費(fèi)希爾x-ray xan x射線熒光測(cè)量?jī)x X-RAY XAN 220是一種優(yōu)化的X射線熒光測(cè)量?jī)x器，用于珠寶、硬幣和貴金屬的無損分析。它特別適合分析貴金屬及其合金的成分和涂層厚度。在氯（17）到鈾（92）范圍內(nèi)可同時(shí)測(cè)定多達(dá)24種元素。FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220和XAN 222符合DIN ISO 3497和ASTM B568。
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XDAL237 X射線熒光測(cè)厚儀 憑借電機(jī)驅(qū)動(dòng)（可選）與自上而下的測(cè)量方向，XDL系列測(cè)量?jī)x器能夠進(jìn)行自動(dòng)化的批量測(cè)試。提供 X 射線源、濾波器、準(zhǔn)直器以及探測(cè)器不同組合的多種型號(hào)，從而能夠根據(jù)不同的測(cè)量需求選擇適合的 X 射線儀器。在設(shè)計(jì)上，F(xiàn)ISCHERSCOPE XRAY XDAL型儀器和XDLM型儀器相對(duì)應(yīng)。
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xan500fischer德國* 手持式、臺(tái)式、在線： XAN®500型X射線熒光儀器是菲希爾到目前為止功能多樣化的設(shè)備。它既可以作為手持式設(shè)備使用，也可以作為封閉式的臺(tái)式機(jī)或是直接整合到生產(chǎn)線中。
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便攜式x射線測(cè)厚儀* XAN®500型X射線熒光儀器是菲希爾到目前為止功能多樣化的設(shè)備。它既可以作為手持式設(shè)備使用，也可以作為封閉式的臺(tái)式機(jī)或是直接整合到生產(chǎn)線中。在配備了平板電腦后，XAN500同樣采用久經(jīng)考驗(yàn)的WinFTM軟件?；诨緟?shù)法的WinFTM軟件不僅能進(jìn)行材料分析，還能測(cè)量鍍層厚度，并可實(shí)現(xiàn)無校準(zhǔn)（不需標(biāo)準(zhǔn)片）測(cè)量。
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德國FISCHER公司X-RAY熒光測(cè)厚儀 HELMUT FISCHER制造用于鍍層厚度測(cè)量和材料分析的X射線熒光系統(tǒng)有超過17年的經(jīng)驗(yàn)。 通過對(duì)所有相關(guān)過程包括X射線熒光測(cè)量法的精確處理和使用了新的軟件和硬件技術(shù)，F(xiàn)ISCHER 公司的X射線儀器具有其*的特點(diǎn)
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德國Fischer x射線測(cè)厚儀 XULM 240代理 XULM特別適合測(cè)量細(xì)小的部件如連接器，觸點(diǎn)或線，也可以測(cè)量印刷線路板上的Au，Ni和Cu鍍層厚度。即使80nm的很薄的金鍍層也可以用測(cè)量點(diǎn)為Ø0.25mm的準(zhǔn)直器測(cè)量，20秒的重復(fù)精度可達(dá)2.5nm。
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Fischerscope x-ray xan120熒光x射線測(cè)厚儀 但是，如果合金中很多元素要測(cè)量或存在光譜重疊情況，那么配備半導(dǎo)體探測(cè)器的儀器，如XAN120，應(yīng)該更加適合。由于具備非常好的分辨率，它也可以用來區(qū)分例如在牙合金中非常關(guān)鍵的金和鉑以及融合的貴金屬合金。
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x射線鍍層與合金的材料分析儀 作為在生產(chǎn)測(cè)量中使用X射線熒光法的*驅(qū)，菲希爾很早就意識(shí)到此方法在鍍層厚度測(cè)量和材料分析領(lǐng)域的巨大潛力，因而開始研發(fā)和制造工業(yè)級(jí)耐用的測(cè)量?jī)x器
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