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德國菲希爾FISCHER
英國泰勒霍普森 Taylor Hobson
美國API
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意大利哈納代理
德國馬爾Mahr
德國艾達米克-霍梅爾Hommel
日本三豐 Mitutoyo
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日本柯尼卡美能達KONICA MINOLTA
德國Qnix尼克斯
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美國Fluke 福祿克
美國Mark-10測力計
美國雷泰 Raytek
美國SDI
美國FLIR 前視紅外熱像系統(tǒng)
美國Fluke福祿克
美國GE無損檢測
上海尚材 SCTMC
香港嘉儀CanNeed
宇舟 金相機械設備
北京時代 TIME
英國易高Elcometer
英國Renishaw雷尼紹
瑞士博勢 Proceq
表面處理層無損檢測系統(tǒng)
fischer銅厚測量儀 sr-scope rmp30-s SR-SCOPE RMP30-S 該便攜式設備采用4點電阻法，十分適合測量多層電路板上薄鍍層的厚度。這種電路板上的多層銅鍍層通常被環(huán)氧樹脂等絕緣體隔開。SR-SCOPE 的優(yōu)勢是利用電阻法測量不會受到其他層的影響，因此能夠準確測定最上層面銅層的厚度。
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菲希爾測厚儀
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